ウェハ表面・裏面 両サイドにアクセス可能なプローブ・システム
ウェハ表面・裏面 両サイドにアクセス可能なダブルサイドセミオートプローブシステムをカスタム対応でご提供いたします。
フリップチップタイプの各種受発光素子の評価や、バックサイド・エミッション観察等の故障解析用途、ダブルサイドプロービング等に対応できます。
・ HSP-150DS：6インチ (φ150mm) 対応
・ HSP-200DS：8インチ (φ200mm) 対応
アプリケーション
- オプトエレクトロニクス（受発光素子）のオンウェハ評価、ダイシング後チップ評価
- バックサイド・エミッション観察（故障解析用途）
- パワーデバイスの低ON抵抗測定（ダブルサイド・プロービング）
- ダイシングテープ上に整列した素子の自動プロービング
- 不良ダイマーキング対応（インカー、けがき）
- レーザーカッターの搭載（ポイントマーキング,保護膜剥離,配線カット）
システム構築例
様々なバックサイドアクセスに対応可能なダブルサイド・プラテンレイアウト
（カスタム対応可能）
ダイシングフレームやクリップリング等ダイシングフィルム上のデバイスの自動測定
（特許 第6651208号）
ウェハ裏面への光照射や、発光検出器の設置、
裏面プロービングに対応
セミオートプローバー制御ソフトウェア
マニュアル操作画面
オート(自動運転)画面
ウェハマップ設定画面
画像認識設定画面
BINマッピング- 最新の高性能・多機能セミオートプロービングソフトウェア。
- OSはWindows IoT Enterprise LTSB に対応。(長期サポート対応）
- 操作性に優れたシングルウィンドウオペレーション。
- メガピクセル撮像カメラ対応。
- ソフトウェアGUIまたはペリフェラルコントローラにより、マニュアルプローバーとしてもご使用可能。
- 上位測定器やPCからGP-IBコマンドで、またはPC内にインストールされた測定器制御ソフトウェアからファイル渡しでの自動制御、自動運転に対応します。
- 上位ソフトウェアからBIN情報を受け取ることでウエハ面内BINマッピング表示に対応。
- 画像認識およびオートフォーカス制御によるX-Y-θ-Zアライメントに対応可能。（オプション）
- 各測定器で取得された測定生データを解析するための、データベース化、パラメータ抽出ソフトウェアを提供できます。（オプション）
- ソフトウェアは自社開発で、カスタマイズ要求を組み込むことが可能です。
代表仕様
| 項目 | HSP-150DS | HSP-200DS |
|---|---|---|
| 対応ウエハサイズ | ～φ150mm | ～φ200mm |
| ステージXY移動範囲 | X：160mm,Y：250mm | X：210mm, Y：300mm |
| バックサイドプラテンZ移動範囲 | 20mm（手動・自動選択） | |
| ステージXY繰り返し精度 | ＜±2um | |
| ステージXY位置決め精度 | ＜±5um | |
| ステージZ移動範囲 | 20mm | |
| ステージZ繰り返し精度 | ＜±1um | |
| ステージθ移動範囲 | ±5° | |
| ステージθ位置決め分解能 | 0.0002° | |
| システム寸法（W×D×H）※ | 1600×1100×1700 mm | 1700×1200 ×1700 mm |
| システム重量※ | 約750kg | 約850kg |
※システムの構成により変動します。
●記載の仕様は予告なく変更される場合があります。
ハードウェア オプション（代表）
- オートフォーカス機能
- アクティブ・クーリング機能（温度特性試験時のプローブ・チャック熱ドリフト低減）
- 顕微鏡 X-Y 電動ステージ（ソフトウェア制御）
- 顕微鏡 電動ズーム、電動フォーカス機能（ソフトウェア制御）
- プローブ自動クリーニング機能
- エッジセンサーユニット（プローブコンタクト高さ 面内 ±1umで制御）
- インカーユニット（ダイマーキング）
- セーフティ・ライトカーテン（追加インターロック機能）
- 超ローノイズ仕様（1/fノイズ、RTN測定に対応）
ソフトウェア オプション
- パターンマッチング 画像認識機能（XYθ位置補正）
- 測定器制御ソフトウェア（要ご相談）
標準的な自動測定対応ソフトウェア
| キーサイト・テクノロジー | ・EasyEXPERTgroup+ ・WaferPro Express ・SPARK他 |
|---|---|
| TFF/ケースレーインスツルメンツ | ・4200A-SCS KITE (Keithley Interactive Test Environment) ・ACS |
| ProPlus Design Solutions | ・Noisepro |
※その他、GP-IB通信対応ソフトウェアで制御可能です。
オプション
掲載製品以外のオプション製品も多数ご用意しております。ご要望のアプリケーションをご相談ください。
システムインテグレーション
ハイソルプローブ・システムと各種計測機器をインテグレーションし、統合した測定システムとしてワン・ストップ・ソリューションでご提供させて頂きます。
ハーネス、アクセサリ、カスタムソフトウェア等、お客様のご要求アプリケーションに最適な測定システムをご提案いたします。
インテグレーション実績有 計測器メーカー様
（順不同、敬称略）
- キーサイト・テクノロジー(株)
- テクトロニクス / ケースレーインスツルメンツ
- (株)エヌエフ回路設計ブロック
- ローデ・シュワルツ・ジャパン(株)
- 日置電機(株)
- 岩崎通信機(株)
- (株)エーディーシー
- (株)テクシオ・テクノロジー
他 多数
インテグレーション実績有 ユニットメーカー様（順不同、敬称略）
HOYA(株)、ブイ・テクノロジー(株)、朝日分光(株)、浜松ホトニクス(株)、エヌピイエス(株） 他 多数
ハイソル 自動測定対応ソフトウェア
ハイソル セミオートプローバーと各種測定器を自動制御するカスタムソフトウェアをご提供します。
お客様のご要求測定アプリケーションに最適な自動測定ソフトウェアを製作構築させて頂きます。
ソフトウェア製作事例
DCパラメトリック自動測定ソフトウェア
（スイッチング・マトリクス制御対応）
RF・Sパラメーター自動測定ソフトウェア
（SOLT / LRM 自動キャリブレーション対応）
カタログダウンロード（PDF）
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