超高温 真空プローバーCPS-HT/CPS-HT-PLUS

真空中 +700℃,大気圧 +650℃
超高温サンプルテスト

 モデル CPS-HT / CPS-HT-PLUSは、真空中または制御されたガス環境のいずれかで、超高温状態でデバイスのテストと特性評価を行うための高温プローブ・システムです。

 真空中で+700℃、大気圧で+650℃までの温度でnAレベルDCテスト、2GHzまでのRFテストに対応できます。

 25 mm 角 ~ 最大100 mmウェハに対応するマニュアル・システム(CPS-HT)と100 mm以上のウエハに対応するセミオート・システム(CPS-HT-PLUS)を提供できます。

モデルCPS-HT / CPS-HT-PLUS 代表仕様

特長

CPS-XXX-HT

  • – 費用対効果・安定性・信頼性が高く、操作性に優れた製品です。
  • – 25 mm角(標準)50 mm角・100 mmウェハ(オプション)の測定
  • – 真空中 +700 °C,大気圧 +650 °Cでの長時間安定テスト
  • – nAレベルのI-V測定,DC ~ 2 GHzのRF測定
  • – 4台のXYZマイクロマニピュレータ付きプローブアーム
     最大8台まで対応可能(オプション)
  • – クリアビュー・トップウィンドウ(高純度石英または溶融石英)
  • – 温度管理された放射シールド
  • – 業界標準レベル以下の防振性能(チャック部の振動 <±1 μm)
  • – お客様の複雑な測定ニーズにお応えするカスタマイズ対応

CPS-XXX-HT-PLUS

  • – 費用対効果・安定性・信頼性が高く、操作性に優れた製品です。
  • – 100 mmウェハ(200 mmウェハ オプション)の自動面内測定に対応
  • – 真空中 +700 °C,大気圧 +650 °Cでの安定テスト
  • – nAレベルのI-V測定,DC ~ 2 GHzのRF測定
  • – 4台のXYZマイクロマニピュレータ付きプローブアーム
     最大8台まで対応可能(オプション)
  • – クリアビュー・トップウィンドウ(高純度石英または溶融石英)
  • – 温度管理された放射シールド
  • – 業界標準レベル以下の防振性能(チャック部の振動 <±1 μm)
  • – お客様の複雑な測定ニーズにお応えするカスタマイズ対応

仕様

CPS-XXX-HT マニュアル・プローブステーション


液体窒素(LN2)冷却仕様

超高真空仕様(10-4 Pa)
サンプルサイズ – 25 mm□,50 mm□,φ100 mm
温度制御範囲 – 300 K ~ 1000 K
– 150 K ~ 800 K(オプション 液体窒素使用)
– その他リクエストに対応します。
温度制御 – 冷却方式:圧縮空気(標準)・液体窒素(オプション)
– 加熱方式:ヒーター
– チャック部温度精度・安定性:低温で1 K,550 K以上で2 K
– コントローラー温度分解能:0.1 K
– 放射シールド
– 温度測定箇所:チャック(2箇所)・放射シールド(オプション)
到達真空度 – 10-1 Pa(オプション 10-4 Pa)
ウェハチャック – 接地型(GND)
– 絶縁型(フローティング)
– コアキシャル
– トライアキシャル
プローブ – DCプローブ(同軸,トライアキシャル)
– RFプローブ(2 GHzまで)
プローブ
マニピュレータ
– 真空ベローズ導入
– XYZ移動方式:マニュアル(標準)・電動(オプション)
– マニピュレータ数:4台(標準)最大 8台まで対応可能
光学系 – ビューポート窓材:溶融石英,カスタム素材やコーティング処理も可能
– ビューポート追加:オプションで対応可能
– 解像度 4 μm以下の各種ズーム鏡筒(Qioptic またはNavitarが標準)
– 同軸落射照明またはLEDリング照明
– 顕微鏡XYZ移動機構:スライド式フリーアームまたは電動(オプション)
カメラ – 1M~10Mピクセルデジタルカメラより選択
  画像および動画キャプチャ,寸法測定機能付きソフトウェア付属
除振機能 – 空気ばね式除振機構(オプション)

●システムの構成により仕様に変更・制限が入る場合があります。
●記載の仕様は予告なく変更される場合があります。

CPS-XXX-HT-PLUS セミオート・プローブステーション

サンプルサイズ – φ100 mm(標準),φ200 mm(オプション)
温度制御範囲 – 300 K ~ 1000 K
– 150 K ~ 800 K(オプション 液体窒素使用)
– その他リクエストに対応します。
温度制御 – 冷却方式:圧縮空気(標準)・液体窒素(オプション)
– 加熱方式:ヒーター
– チャック部温度精度・安定性:低温で1 K,550 K以上で2 K
– コントローラー温度分解能:0.1 K
– 放射シールド
– 温度測定箇所:チャック(2箇所)・放射シールド(オプション)
到達真空度 – 10-1 Pa(オプション 10-4 Pa)
ウェハチャック – 接地型(GND)
– 絶縁型(フローティング)
– コアキシャル
– トライアキシャル
– 平面度:< 10 μm
プローブ – DCプローブ(同軸,トライアキシャル)
– RFプローブ(2 GHzまで)
プローブ
マニピュレータ
– 真空ベローズ導入
– XYZ電動,分解能 < 3 μm(それ以下の分解能はオプション),システムの構成により各種ストロークに対応
– マニピュレータ数:4台(標準)最大 8台まで対応可能
チャックXYステージ – 100 mmモデル:X 100 mm × Y 100 mm ストローク
– 200 mmモデル:X 200 mm × Y 200 mm ストローク
– 分解能:1.5 μm,繰り返し精度:±7.5 μm
チャックZステージ – Z 12.5 mm
– 分解能:0.1 μm,繰り返し精度:±1.0 μm
チャックθステージ – マニュアル:θ ±5°
– 電動(オプション):θ ±5°,分解能:< 0.004°
光学系 – ビューポート窓材:溶融石英,カスタム素材やコーティング処理も可能
– ビューポート追加:オプションで対応可能
– 解像度 4 μm以下の各種ズーム鏡筒(Qioptic またはNavitarが標準)
– 同軸落射照明またはLEDリング照明
– 顕微鏡XYZ移動機構:スライド式フリーアームまたは電動(オプション)
– シャッター(オプション)
カメラ – 1M~10Mピクセルデジタルカメラより選択
除振機能 – 空気ばね式除振機構を装備
– チャック部の振動:<±1 μm
ソフトウェア – MicroXact XactTest™ ソフトウェア
通信インターフェイス – GP-IB,USB,RS-232

●システムの構成により仕様に変更・制限が入る場合があります。
●記載の仕様は予告なく変更される場合があります。

MicroXact社

 MicroXact社は米国バージニア州に拠点を置く、真空・極低温・超高温・磁場印可をキーワードとしたユニークかつ先進的なプローブ・システムを製造・販売する企業です。2004年の設立以来、現在までに25以上の国と地域に納入実績があり、超伝導エレクトロニクス、量子コンピューティング、スピントロニクス、グラフェン、ナノエレクトロニクスなどの科学研究のイノベーションをサポートし続けています。
 ハイソル株式会社は、MicroXact社製品の日本総代理店です。

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