外部照明下・カスタム光学系でのプロービング

　多くのオプトエレクトロニクスコンポーネント（IRセンサー、ボロメーター、フォーカルプレーンアレイ、太陽光発電モジュールなど）では、プロービング中に外部照明とカスタム光学系の統合が必要です。
　この照明は、黒体照明からソーラーシミュレータ照明、パルス、変調、または連続波レーザー光による照明まで多岐にわたります。
　MicroXact社では、プローバーをこの種のアプリケーションに適合させた経験があり、常にお客様と協力して、お客様のカスタムプローブステーション要件に対応する使い勝手がよく費用効果の高いソリューションを考え出すことに専念しています。

拡張温度範囲プローブステーション

　アプリケーションの重要なサブセットは、極低温THzデバイステストとウェハテストに関連しています。
　これらの問題に対処するために、MicroXact社は、拡張温度範囲の標準プローブステーションと、異常に高い熱負荷、非常に高い周波数テスト(110 GHz以上)、およびテストヘッドの高い熱容量に対応するため、高度にカスタムされたソリューションを提供しています。

分光機能を備えたプロービングソリューション

　特定のアプリケーションでは、電気的バイアス、印加電流、または磁場印可の下でのデバイスおよび材料の分光（ラマン、蛍光など）測定が必要です。
　MicroXact社のプローブステーションはこれらのアプリケーションに最適であり、当社のエンジニアは、これらの困難なニーズを満たすために、最も高性能かつ、ユーザーフレンドリーで費用対効果の高いソリューションの開発に努めています。

カタログダウンロード（PDF）

お問い合わせ

個人情報保護方針(プライバシーポリシー)

• 個人情報に関する法令・規範を遵守します。
• 当社はお客様の個人情報への不正アクセス、紛失、破壊、改ざん及び漏洩等の防止に努めます。
• 個人情報は法令に基づき開示される以外は、個人情報をお客様に明示した利用目的の範囲内で取扱い、第三者に譲渡、提供はしません。
• 当社は個人情報保護に対する取組みを継続的に見直し、適宜改善します。